Прибор для контроля центрировки OptoTL ™ – C1
«Опто-Технологическая Лаборатория» разработала и производит прибор, предназначенный для бесконтактного контроля центрировки прозрачных и непрозрачных линз и линзовых сборок (линз в оправе).
Характерные особенности и комплектация OptoTL – C1
Базовая комплектация
- небольшие габариты для размещения на производстве рядом с оптическими станками;
- компьютер и ПО;
- наличие камеры и монитора для визуальной оценки центрировки,
- zoom объектив для обеспечения максимальной чувствительности измерений для любых радиусов от 3 мм до ∞;
- возможность регулировки поля наблюдения (широкое и узкое поле приборов для облегчения первичного поиска автоколлимационной точки (широкое поле) и увеличения чувствительности (узкое поле) для точного контроля);
- наличие коннектора для подключения к внешней вакуумной системе для лучшей базировки детали при контроле.
Опции
- возможность измерения центрировки непрозрачных деталей с двух сторон
- специально разработанное оригинальное программное обеспечение OptoTL-C для измерений в производственных условиях;
- компьютер для реализации программного обеспечения;
- двух или трех спектральный источник света для облегчения контроля деталей с различным просветляющим покрытием;
- привод вращения детали для диаметров более 10 мм.
Прибор поставляется «под ключ» в комплекте со всем необходимым, чтобы запустить и начать работу.
Программное обеспечение OptoTL-C1
Программное обеспечение позволяет:
- производить расчет децентрировки одной или двух поверхностей;
- записывать результат контроля и создавать отчет;
- визуализировать биение автоколлимационных точек на экране монитора.
Технические характеристики OptoTL– С1
| Тип поверхностей контролируемых деталей |
Оптическая Полированная, с оптическим покрытием или без |
| Форма поверхностей контролируемых деталей |
Плоская, Сферическая |
| Диаметры контролируемых деталей, мм | 3-120 |
| Коэффициент отражения контролируемых поверхностей | 1-99% |
|
Диапазоны радиусов, мм, - выпуклые (CX) - вогнутые (CC) |
∞ – 3СХ 3СС – ∞ |
| Точность измерения де-центрировки, % от величины контролируемого радиуса, (но не менее 1 мкм) | 0.01 |
| Максимальное измеряемое отклонение, не менее, мм, | 0.2 |
| Длины волн источников излучения (возможно изменять количество и длину волны по желанию заказчика), нм, | 532, 633, 900 |
| Масса прибора* | <=40 kg |
|
Габаритные размеры, ориентировочно: Длина Ширина Высота |
<=400 мм <=500 мм <=700 мм |
*окончательные значения определяются при изготовлении.
