Интерферометр OptoTL™– 300-pl

Бесконтактный технологический контроль оптических поверхностей
Предназначен для работы с полированными деталями диаметром до 300 мм.
Интерферометр OptoTL™ – 250/300 (обобщённая модель) внесен в Госреестр средств измерений (ФГИС Росстандарт / Аршин)

Ключевые отличия OptoTL™– 300-pl от OptoTL™– 250-pl

  • рабочий диапазон плоских поверхностей: 30–300 мм;
  • модель рассчитана на более крупные полированные детали, чем 250-pl (от 25 до 250 мм);
  • масса прибора выше: до 600 кг.

Разработан для реального производства, а не для лабораторий.

Производственные барьеры
Вибрации от работающих станков
Ручной контроль, возможность повреждения деталей
Долгая и сложная юстировка
Дефицит пространства в цеху
Решения OptoTL™
Специальный виброизолированный стол для установки интерферометра и пассивная система виброизоляции достаточная для работы в производственных условиях
Блок аварийной остановки перемещения при недопустимом сближении эталонной и контролируемой поверхности
Три монитора или три дополнительных окна на компьютерном мониторе для быстрой юстировки и визуализации интерференционной картины при настройке + умная моторизация оси Z (чувствительность 30 нм)
Небольшие габариты для размещения на производстве рядом с оптическими станками (≤ 870х650х1320 мм)

Три измерения абсолютной точности

  • Точность формы (N/ΔN)
    Бесконтактный контроль полированных плоских поверхностей от 30 до 300 мм. Коэффициент отражения: 1-99%.
  • Искажение волнового фронта
    Бесконтактный высокоточный анализ искажения проходящего волнового фронта плоскопараллельных пластин.
  • Клиновидность пластин
    Измерения клиновидности прозрачных плоскопараллельных пластин. Предел измерения клиновидности — 120 сек, погрешность — 0,5 сек.

Устранение паразитных отражений

Проблема: Обычный контроль
При контроле прозрачных материалов отражение от задней поверхности искажает интерференционную картину, делая измерения неточными.
Решение OptoTL (Патент №210617)
Интегрирован дополнительный лазерный модуль (660 нм). Эта запатентованная технология эффективно подавляет влияние второй стороны при контроле плоскопараллельных пластин.
Основной источник излучения: одночастотный лазерный модуль (633 нм или 660 нм).

Визуализация и автоматизация контроля

Оригинальное Программное обеспечение OptoTL™-FI (имеется государственная регистрация) разработано для оперативных измерений в производственных условиях.
  • Быстрая юстировка
    Система из 3 мониторов
    или виртуальных окон для
    мгновенной визуализации
    интерференционной картины
    при настройке.
  • Канал быстрого поиска
    Дополнительный канал для предварительного поиска отражения от контролируемой поверхности (канал быстрого поиска)
  • Автоматический поиск масок
    Новая опция!
    для моментального
    распознавания и работы
    с деталями сложной конфигурации.

Автоматизация позиционирования и безопасность

Моторизованный привод
Вертикальное перемещение измерительной головки осуществляется высокоточным серводвигателем для плавного и контролируемого сближения.
Блок аварийной остановки
Встроенная аппаратная защита. Мгновенная блокировка перемещения при риске недопустимого сближения эталонной и контролируемой поверхностей, исключающая механические повреждения.
Юстировочный столик
Интегрированная система для прецизионного наклона контролируемых деталей и точного выведения интерференционной картины.

Поставка «Под Ключ»

Интерферометр поставляется в комплекте с виброизолированным столом и всем необходимым периферийным оборудованием. Система полностью готова к немедленному запуску и интеграции в производственный процесс с первого дня.
Технические характеристики интерферометра OptoTL™– 300-pl
Возможна замена источника излучения: вместо лазерного модуля 660 нм может быть установлен модуль на 840 нм. Длина волны 840 нм для выявления скрытых деформаций оптических деталей с просветляющим покрытием.
Запрос на Интерферометр OptoTL™– 300-pl
Частые вопросы