OptoTL™ – БИК
Точность за пределами видимого спектра
Бескомпромиссный интерферометрический контроль оптических деталей с просветляющим покрытием. Длина волны 840 нм для выявления скрытых деформаций.
Конфликт коэффициентов отражения в видимом свете
Эталон
Контролируемая деталь
При контроле деталей с покрытиями разница в отражении между эталоном без покрытия (~3%) и тестируемой деталью (0.1-0.5%) разрушает контраст. Результат: Интерференционная картина нечитаема. Контроль формы поверхности становится невозможным.
Слепая зона оптического производства
Сложность контроля приводит к тому, что проверка формы поверхности покрытых деталей проводится редко. Это критическая ошибка: нагрев, напряжения от самого просветления и пережатие при монтаже могут необратимо деформировать идеальную оптику.
-
Вакуумное напыление
Термические деформации
от нагрева детали. -
Физика покрытия
Внутренние механические напряжения слоев. -
Сборка в оправу
Пережатие и деформация при монтаже.
Физика решения OptoTL-БИК на 840 нм
Традиционно интерферометры используют источник излучения - одночастотный лазерный модуль 633 нм или 660 нм Использование источника света 840 нм выводит контроль за пределы области действия большинства просветляющих покрытий. Отражение возрастает, возвращая идеальный контраст интерференционной картины без замены эталона.
Приборы серии OptoTL-БИК одинаково безупречно контролируют как непокрытые, так и покрытые детали. Нет необходимости содержать два разных интерферометра. Для БИК-версий сохранены абсолютно все опции, доступные в видимом диапазоне.
Приборы серии OptoTL-БИК одинаково безупречно контролируют как непокрытые, так и покрытые детали. Нет необходимости содержать два разных интерферометра. Для БИК-версий сохранены абсолютно все опции, доступные в видимом диапазоне.
OptoTL-БИК: Бескомпромиссная точность
100% Контроль качества.
Обнаружение дефектов нагрева и пережатия после сборки изделия.
Идеальный контраст
Физическое решение проблемы за счет
выхода в ИК-диапазон (840 нм)
выхода в ИК-диапазон (840 нм)
Экономическая эффективность
Один универсальный прибор вместо двух,
без затрат на дорогостоящие эталоны.
без затрат на дорогостоящие эталоны.
Доступен для интерферометров OptoTL™ серии
Запрос на Интерферометр OptoTL™ БИК
Частые вопросы
Интерферометры OptoTL-БИК нужны для контроля оптических деталей с покрытиями, когда в видимом диапазоне интерференционная картина получается недостаточно контрастной. Это особенно важно после нанесения просветляющих покрытий, так как покрытие и нагрев детали могут изменить форму поверхности.
Проблема возникает из-за разницы в коэффициентах отражения. Эталонная поверхность объектива без просветляющего покрытия отражает около 3%, а контролируемая поверхность с покрытием может иметь отражение всего 0,1–0,5%. Из-за этого контраст интерференционной картины снижается, и оценивать форму поверхности становится сложнее.
Длина волны 840 нм находится за пределами области просветления большинства покрытий. Поэтому отражение от контролируемой поверхности становится ближе к отражению от эталона, а интерференционная картина получается более контрастной и удобной для анализа.
Да. Интерферометры OptoTL-БИК подходят не только для деталей с покрытиями, но и для непокрытых оптических поверхностей. Поэтому в большинстве случаев не нужно приобретать два отдельных интерферометра для разных типов контроля.
Работа на длине волны 840 нм требует более внимательной юстировки, так как излучение находится за пределами видимого диапазона. Для удобства настройки вместе с интерферометром используется индикатор ИК-излучения, который помогает корректно выполнить юстировку прибора.
Да. OptoTL-БИК подходит для проверки возможного пережатия линз после установки в оправу. Такой контроль особенно актуален для покрытых деталей, где в видимом диапазоне из-за низкого контраста интерференционной картины диагностика может быть затруднена.